| 成果簡介： 當(dāng)一束激勵X射線照射到樣品上，鍍層和基底中的元素都放射出特征熒光X射線(XRF),。鍍層熒光X射線的強(qiáng)度隨鍍層厚度而增加,；基底熒光X射線的強(qiáng)度隨鍍層厚度而降低。根據(jù)這類關(guān)系,，測定熒光X射線的強(qiáng)度,便可以計算出鍍層的厚度,。普通XRF儀器的照射區(qū)域比較大,不適用于精微細(xì)小、形狀復(fù)雜的樣品,。微區(qū)XRF儀器將微束X射線集中照射在很小的區(qū)域內(nèi)(專利ZL 94 1 12117.8),采用激光定位技術(shù)(專利ZL 97 2 35392.5),能方便地選擇樣品上任意部位進(jìn)行精確測量,。 成果應(yīng)用前景： XRF微區(qū)鍍層測厚儀的國內(nèi)市場需求量每年約300臺,（以每臺２０萬計算，每年需求額約６０００萬元）,，絕大部分來自三家外國公司(美國CMI公司,，德國Fischer公司和日本精工舍公司)。研究所凝聚其30多年從事X射線熒光(XRF)技術(shù)研究的經(jīng)驗,，結(jié)合其近年來在微區(qū)分析領(lǐng)域取得的成果,，于１９９４年研制成功XRF系列微區(qū)鍍層測厚儀，受到用戶好評,。這項研究成果的目標(biāo)是在鍍層質(zhì)量檢驗中,，用我國高新科學(xué)技術(shù),，取代昂貴的進(jìn)口儀器。該項產(chǎn)品已通過國家技術(shù)監(jiān)督局鑒定,，性能指標(biāo)達(dá)到進(jìn)口儀器的水平,，它的價格只有進(jìn)口儀器的幾分之一，是一種比較先進(jìn)而實用的質(zhì)量檢驗儀器,，適合于電子元件,，精密機(jī)械，鐘表眼鏡,，制筆工藝,，珠寶首飾及其它電鍍行業(yè)推廣使用。 技術(shù)（成果）成熟度： 目前,，我們已經(jīng)開發(fā)出XRF300,XRF500和XRF900三種適合不同大小被測件的儀器,，它們能夠測量的品種和精度都達(dá)到進(jìn)口儀器的水平。由于測量自動化程度,、儀器結(jié)構(gòu)包裝和市場營銷等因素不如進(jìn)口儀器,，現(xiàn)在的年銷量約２５臺，少于國內(nèi)市場的１０％,。 擬合作方式： 愿意聯(lián)合相關(guān)的儀器制造公司共同開展研究,，提升儀器的測量自動化程度，改善儀器制造工藝,，改進(jìn)儀器外觀包裝,，加強(qiáng)市場營銷力量，大力開拓國內(nèi)市場,，在條件成熟時將產(chǎn)品推銷到國外市場,。 |
